美國(guó)磁通EV6000 MG 檢測(cè)套裝
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話(huà),可以
產(chǎn)品名稱(chēng): 美國(guó)磁通EV6000 MG 檢測(cè)套裝
產(chǎn)品型號(hào):
產(chǎn)品展商: 美國(guó)磁通
產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
EV6000 MG 檢測(cè)套裝
美國(guó)磁通EV6000 MG 檢測(cè)套裝
的詳細(xì)介紹
美國(guó)磁通EV6000 MG 檢測(cè)套裝
LED黑光燈熒光磁粉檢測(cè)套裝
EV6000 MG檢測(cè)套裝是一種使用方便快捷的產(chǎn)品套裝。其中包含了手持式LED黑光燈EV6000，易操作的噴罐形式熒光磁粉。
每個(gè)檢測(cè)套裝內(nèi)包含14AM油基熒光磁懸液，SKC-S清洗劑，SCRUBS®擦拭巾，DYKEM®黃色記號(hào)筆和抹布。
EV6000 MG檢測(cè)套裝非常便攜，且適用于工廠檢測(cè)、外場(chǎng)檢測(cè)中非常細(xì)小的缺陷，可用于檢測(cè)關(guān)鍵應(yīng)用，二次加工后的檢測(cè)，在役檢測(cè)，高強(qiáng)度合金檢測(cè)及其他多種應(yīng)用。
件號(hào)
件號(hào): 626779
應(yīng)用范圍
NDT 方法: 熒光滲透檢測(cè)和熒光磁粉檢測(cè)
件號(hào)
件號(hào): 626779
應(yīng)用范圍
NDT 方法:
熒光滲透檢測(cè)和熒光磁粉檢測(cè)
件號(hào)
件號(hào): 626779
應(yīng)用范圍
NDT 方法: 熒光滲透檢測(cè)和熒光磁粉檢測(cè)
適用于:
檢測(cè)非常細(xì)小的缺陷
關(guān)鍵應(yīng)用
二次加工后檢測(cè)
在役檢測(cè)
高強(qiáng)度合金
適用缺陷類(lèi)型:
夾渣
接縫處缺陷
收縮裂紋
裂縫
折疊
鱗狀缺陷
焊接缺陷
磨削裂紋
淬火裂紋
疲勞裂紋
使用建議
NDT 方法: 濕法熒光磁粉檢測(cè)
載液: Carrier II (石油餾出物)
必需設(shè)備: 磁化設(shè)備
溫度范圍: 55 ~ 120°F / 13 ~ 49°C
推薦附件:
UVe-Lux雙光照度計(jì) PN 017B012
UV-A數(shù)字式黑光強(qiáng)度計(jì) PN 625024
數(shù)字式白光照度計(jì) PN 622338
紫外線防護(hù)眼鏡 PN 506249
適用于:
檢測(cè)非常細(xì)小的缺陷
關(guān)鍵應(yīng)用
二次加工后檢測(cè)
在役檢測(cè)
高強(qiáng)度合金
適用缺陷類(lèi)型:
夾渣
接縫處缺陷
收縮裂紋
裂縫
折疊
鱗狀缺陷
焊接缺陷
磨削裂紋
淬火裂紋
疲勞裂紋
使用建議
NDT 方法: 濕法熒光磁粉檢測(cè)
載液: Carrier II (石油餾出物)
必需設(shè)備: 磁化設(shè)備
溫度范圍: 55 ~ 120°F / 13 ~ 49°C
推薦附件:
UVe-Lux雙光照度計(jì) PN 017B012
UV-A數(shù)字式黑光強(qiáng)度計(jì) PN 625024
數(shù)字式白光照度計(jì) PN 622338
紫外線防護(hù)眼鏡 PN 506249
適用于:
檢測(cè)非常細(xì)小的缺陷
關(guān)鍵應(yīng)用
二次加工后檢測(cè)
在役檢測(cè)
高強(qiáng)度合金
適用缺陷類(lèi)型:
夾渣
接縫處缺陷
收縮裂紋
裂縫
折疊
鱗狀缺陷
焊接缺陷
磨削裂紋
淬火裂紋
疲勞裂紋
使用建議
NDT 方法: 濕法熒光磁粉檢測(cè)
載液: Carrier II (石油餾出物)
必需設(shè)備: 磁化設(shè)備
溫度范圍: 55 ~ 120°F / 13 ~ 49°C
推薦附件:
UVe-Lux雙光照度計(jì) PN 017B012
UV-A數(shù)字式黑光強(qiáng)度計(jì) PN 625024
數(shù)字式白光照度計(jì) PN 622338
紫外線防護(hù)眼鏡 PN 506249
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
包含了濕法熒光磁粉檢測(cè)所需的所有產(chǎn)品
清晰明亮的磁痕
高靈敏度磁粉
EV6000擁有23cm直徑輻照范圍，均勻的圓形光斑
便攜式手提箱
套裝內(nèi)容
EV6000手持式LED黑光燈
14AM噴罐 2罐
SKC-S噴罐2罐
SCRUBS擦手巾3條
DYKEM黃色記號(hào)筆一支
抹布一塊
件號(hào)
件號(hào): 626779
應(yīng)用范圍
NDT 方法: 熒光滲透檢測(cè)和熒光磁粉檢測(cè)
適用于:
檢測(cè)非常細(xì)小的缺陷
關(guān)鍵應(yīng)用
二次加工后檢測(cè)
在役檢測(cè)
高強(qiáng)度合金
適用缺陷類(lèi)型:
夾渣
接縫處缺陷
收縮裂紋
裂縫
折疊
鱗狀缺陷
焊接缺陷
磨削裂紋
淬火裂紋
疲勞裂紋
使用建議
NDT 方法: 濕法熒光磁粉檢測(cè)
載液: Carrier II (石油餾出物)
必需設(shè)備: 磁化設(shè)備
溫度范圍: 55 ~ 120°F / 13 ~ 49°C
推薦附件:
UVe-Lux雙光照度計(jì) PN 017B012
UV-A數(shù)字式黑光強(qiáng)度計(jì) PN 625024
數(shù)字式白光照度計(jì) PN 622338
紫外線防護(hù)眼鏡 PN 506249